레이저 분광시스템
HELIOS Microscopy Femtosecond Transient Absorption Microscopy
작성자 관리자
날짜 2023-01-03 16:38:45
◆TA 현미경
◆Widefiled
◆Confocal
와이드필드 TAM
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Helios-WIDEFIELD
- •Femtosecond Transient Absorption Microscopy
- •와이드필드 순간흡수 현미경
- •제조사: (미) Ultrafast Systems
HELIOS-WIDEFIELD 현미경은 시료의 대면적에 걸쳐 동시에 um 이하의 공간해상도와 펨토초 시간분해능으로 단일파장 순간흡수 역학을 측정할 수있도록 디자인되었습니다. 대부분의 순간흡수 현미경 테크닉과는 달리, HELIOS-WIDEFIELD 는 측정시료나 레이저빔의 스캔을 필요하지 않습니다.
- •순간흡수 이미징
- •공간분해능 0.5um
- •스펙트럼 범위 400-800nm
Large Area Data Acquisition
순간흡수 데이터는 카메라가 보는 전체 55 x 41 μm 영역에서 측정됩니다.널리 사용되는 1kHz 펨토초 레이저와 같이 반복률이 낮은 레이저로 넓은 영역에서 빠른 데이터 수집을 용이하게 합니다.
Uniform Light Field
면펌프와 면프로브 빔은 톱햇빔셰이퍼(Top-hat beam shaper)를 통해 포커싱되어 샘플에서 광강도가 균일하도록 합니다. 균일한 강도는 펌프 또는 프로브 광 강도의 변화로 인한 동역학의 이질성을 최소화합니다.
High Resolution
100x 0.95 NA 의 대물렌즈가 사용됩니다. 샘플을 백색광 LED 광원으로 조명하는 경우 550nm 해상도가 달성됩니다.
Two Available Excitation Modes
- •점 여기모드: 시료 위 특정 한개의 점(spot)만 여기되고 그 한 점 주변의 동역학이 측정될 수 있습니다. 이 모드는 Carrier diffusion 같은 공간동역학의 측정을 가능하게 합니다.
- •면 여기 모드: 시료의 특정 면(area)이 여기되고 동시에 고르게 측정됩니다. 이 모드는 샘플의 넓은 영역에 걸쳐 동역학 매핑을 가능하게 합니다.
공초점 TAM
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Helios-CONFOCAL
- •Femtosecond Transient Absorption Microsocpe
- •공초점 펨토초 순간흡수 현미경
- •제조사: (미) Ultrafast Systems
HELIOS 공초점 현미경은 다양한 물체의 과도 흡수 현미경을 위해 개발되었습니다. 현미경은 독립적으로 설정하거나 기존 HELIOS 초고속 과도 흡수 분광기에 대한 추가 기능으로 설정할 수 있습니다. 고유한 디자인으로 2um 미만의 공간 분해능으로 측정할 수 있습니다. 사용자는 박막, 반도체 웨이퍼, 나노 구조 등을 연구할 때 반사 모드와 투과 모드 사이를 전환할 수 있습니다. 이 현미경은 미크론 크기의 샘플 또는 이종 샘플의 특정 영역을 연구할 수 있습니다. 내장된 2D 카메라로 관심 지점을 쉽게 찾을 수 있습니다.
- •모든 싱글스폿에 대한 순간흡수 측정
- •스펙트럼 범위 450-700nm
- •공간해상도 <2um
- •독자구성 또는 Helios 분광기에 부가
- •분광 분해 현미경 및 공간 분해 분광 측정. 측정은 백색광 프로브로 수행되며 프로브 파장을 스캔할 필요 없이 넓은 범위(450-750nm) 고해상도(4nm) 스펙트럼을 즉시 얻습니다.
- •대규모 샘플 지원. 긴 작동 거리의 대물 렌즈가 사용됩니다. 전송 모드에서 22mm 길이의 샘플 영역을 사용할 수 있습니다. 넓은 공간은 두꺼운 기판을 처리할 수 있으며 샘플을 쉽게 로드할 수 있습니다.
- •샘플을 직접 볼 수 있습니다. 샘플은 전용 LED로 조명됩니다. 컬러 2D 카메라는 빛을 수집하고 대물 렌즈를 통해 확대된 샘플의 이미지를 형성합니다. 흥미로운 샘플 영역을 쉽게 찾을 수 있습니다.
- •측정 지점 추적. 레이저 빔과 샘플 뷰를 카메라로 전송하여 위치와 스팟 크기를 정확하게 결정할 수 있습니다.
- •정확한 샘플 위치 제어. XYZ 스테이지의 차동 마이크로미터를 사용하면 측정된 지점 위치를 제어할 수 있습니다.
- •반사 모드는 불투명하거나 두꺼운 샘플의 측정을 용이하게 합니다.
- •전송 모드와 반사 모드 간의 간소화된 전환.
- •맞춤형 광학 설정.